tr  en

N-SIM

  • Konvensiyonel optik mikroskopların 2 kat daha fazla çözünürlüğe ulaşmaktadır.
  • Canlı görüntüleme için zaman çözünürlülüğü 0.6 kare/sn’dir.
  • Yeni geliştirilmiş SIM - TIRF (Total Internal Reflection Flouresence) tekniği ile hücre zarı görüntülemesinde konvansiyonel TIRF mikroskoplarından belirgin olarak çok daha fazla yapısal detayı yüksek çözünürlükte görüntülemeyi başarmıştır.
  • 3D-SIM tekniği ile optik kesitleme yapılabilmektedir ve hücre yapılarının detaylı bir şekilde yüksek çözünürlükte görüntülemesi yapılabilmektedir.

Nikon’un super resolution sistemleri hücresel yapıların ve moleküler aktivitelerin gözlenmesi için hiçbir zaman şu ana kadar elde edilmeyen çözünürlüklere ulaşmıştır.

Nikon UCSF tarafında geliştirilmiş ve patentlenmiş “Structural Illumination Microscopy” tekniği ile Ti-E serisi inverted mikroskop ve APO TIRF (N.A 1.49) süper kalite objektifi kullanarak optik mikroskopların elde edebileceği çözünürlüğün 2 katına ulaşmıştır. N-SIM ayrıca zaman çözünürlüğüne göre saniye de 0.6 kare hız ile pazarda en gelişmiş görüntüleme teknolojisini kullanmaktadır.

Super Resolasyon:
  • Lateral (XY): ~85-110nm (dalgaboyu ve kullanılan optik sisteme göre değişken)
  • Axial (Z): ~200-250nm (dalgaboyu ve kullanılan optik sisteme göre değişken)
  • 3D Axial Aralık: 20 mikrona kadar
Hız:
  • TIRF ve 2D SIM = 0.6 sn/kare (pozlama süresine göre değişken)
  • 3D SIM = 1.0 sn/kare (pozlama süresine göre değişken)
Mikroskop: Ti-E (PFS) ve SIM Aydınlatması, SIM Mikroskop
Objektifler:
  • Apo TIRF 100X 1.49 Yağlı
  • Plan Apo IR 60X 1.27 Su immersiyonlu
Kullanılan Lazerler:
  • 405nm (100mW)
  • 457nm (100mW)
  • 488nm (200mW)
  • 515nm (100mW)
  • 532nm (100mW)
  • 561nm (100mW)
  • 640nm (100mW)
Kamera: EM-CCD Camera iXon DU897 (Andor)
Anti-Vibrasyon Optik Tabla: Gerekli
Çalıştırma Sıcaklık Aralığı: 25°C ± 0.5°C
Çalıştırma Nem Düzeyi: 40-50% ± 3%